測量元器件和電路的頻率響應特性是確保電子設備性能的關鍵步驟。在從低頻至高頻的各種頻率范圍內對各類元器件和電路進行測量非常必要。
在這些應用中，
是德E5063A網絡分析儀在確保低頻模擬電路器件（例如傳感器系統和電源部件）實現穩定可靠工作方面具有重要作用。為此，您需要在了解射頻網絡分析（S參數測量）的同時，也需要很好地對低頻網絡分析（增益相位測量）的應用有所了解。
首先，針對使用低頻網絡分析儀測量2端口器件的傳輸特性的配置，我們簡要介紹一下典型的被測器件的連接方法。是測量50Ω的器件的傳輸響應特性，例如：濾波器和電纜。
使用是德E5063A網絡分析儀的增益相位測試端口進行此類測試的配置情況。R通道接收機（VR）用于測量在50Ω系統阻抗的激勵源的輸出電壓（50Ω傳輸線輸入信號的電壓），T通道接收機（VT）用于測量經過被測器件傳輸之后輸出信號的電壓，然后儀表計算測量到的電壓比（VT/VR），即可得到傳輸系數S21。
在S參數測試端口的后邊有多個內置的定向橋，因此無需使用從外部接入測量配置中的功率分離器。大部分情況下，S參數測試端口用于測量50Ω的器件的傳輸響應特性。
對于大部分50Ω器件的傳輸響應特性的測試情況，使用是德E5063A網絡分析儀的S參數測試端口就可以了。
但是，對于大衰減器件的測量，例如：測量DC-DC轉換器和大電容旁路電容器的只有毫歐量級的阻抗時，通常需要采用分流直通的測量方法，這種傳輸響應特性的測量就要使用儀表的增益相位測試端口而不是S參數測試端口進行測量。
在這種情況下，增益相位測試端口接收機的半浮地結構可以避免低頻范圍的測量誤差，該誤差是由激勵號源與接收機之間測試電纜的接地環路引起的（稍后會有詳細介紹）。
